产品特点
FLIM, FRET, FCS的一键化系统
紧凑,易用,免维护型高度定制化系统
可适配几乎所有主流的激光扫描显微镜
最大4通道独立探测模块的高灵敏度系统
荧光寿命探测范围从小于100ps到微秒级别
高端易用,匹配多种分析方式的数据收集和分析软件
可用于各向异性和深层组织FLIM
主要应用
时间相关荧光研究
荧光寿命成像(FLIM)
荧光相关光谱(FCS),荧光寿命相关光谱(FLCS),荧光互相关光谱(FCCS)
脉冲交错激发(PIE)
激光切割与消蚀
荧光寿命成像的图案匹配分析
时间分辨光致发光研究(TRPL)
TRPL成像
反聚束效应研究
各向异性研究
参数
| 激发模块 |
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| 可支持显微镜模块 |
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| 探测器 |
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| 探测方式 |
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| 数据采集方式 |
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| 计数模块 |
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| 交互软件 |
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